SEMおよびTEMを用いた接着界面の微小漏洩に関する研究

佐野英彦; 吉山昌宏; 西田裕威; 恵比須繁之; 高津寿夫; CIUCCHI B; HORNER J A; CARVALHO R M; PASHLEY D H

文献

J-GLOBAL ID：200902145519168901 整理番号：95A0141777

SEMおよびTEMを用いた接着界面の微小漏洩に関する研究

SEM and TEM Study on Nanoleakage Pathway at the Adhesive Interface.

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著者 (9件)：

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資料名：

日本歯科保存学雑誌 (Japanese Journal of Conservative Dentistry)

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巻： 37 号： 6 ページ： 1686-1693 発行年： 1994年12月
JST資料番号： Y0096A ISSN： 0387-2343 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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2種の象牙質接着システム,Clearfil Liner Bo...

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