PIXEによるGaAs半導体中のインジウム濃度の定量

文献

J-GLOBAL ID：200902145583375864 整理番号：96A0751839

Determination of Indium Concentration in Semiconductor of GaAs by PIXE.

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資料名：
巻： 5 号： 1 ページ： 39-42 発行年： 1995年
JST資料番号： W0273A ISSN： 0129-0835 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：シンガポール (SGP) 言語：英語 (EN)

プレートターゲットを使ったPIXE(粒子励起X線分析)法によ...

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無機物質中の元素の化学分析

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