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J-GLOBAL ID：200902145618088774   整理番号：97A0250508

ドープなしヒドロキシアパタイト焼結体の高分解能電子顕微鏡と収束電子回折

High-Resolution Electron Microscopy and Convergent-Beam Electron Diffraction of Sintered Undoped Hydroxyapatite.

著者 (4件)： KLEEBE H-J (Univ. Bayreuth, Bayreuth, DEU) ,  BRES E F (Univ. Lille, Villeneuve d’Ascq, FRA) ,  BERNACHE-ASSOLANT D (Max-Planck-Inst. Metal Res., Stuttgart, DEU) ,  ZIEGLER G (Univ. Bayreuth, Bayreuth, DEU)
資料名： Journal of the American Ceramic Society  (Journal of the American Ceramic Society)
巻： 80  号： 1  ページ： 37-44  発行年： 1997年01月 
JST資料番号： C0253A  ISSN： 0002-7820  CODEN： JACTAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記試料の透過電子顕微鏡と収束電子回折の観察では,1250°C...

シソーラス用語： 高分解能電子顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (5件)： ドープ ,  ヒドロキシアパタイト ,  焼結体 ,  高分解能電子顕微鏡 ,  収束電子回折