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J-GLOBAL ID：200902145935597641   整理番号：99A0622311

プレーナ形マイクロうず電流プローブによる探傷技術の動向

Trend of Detection Techniques Using Planar-Type Micro-Eddy-Current Testing Probes.

著者 (2件)： 山田外史 (金沢大 工) ,  岩原正吉 (金沢大 工)
資料名： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 23  号： 7  ページ： 1817-1825  発行年： 1999年07月01日 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 0285-0192  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標記プローブは,フレキシブルで,マイクロ化,アレー化の実現に...

シソーラス用語： *電磁誘導検査 ,...

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分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： プレーナ ,  マイクロ ,  うず電流 ,  プローブ ,  傷 ,  動向