走査型トンネル顕微鏡法  電界電子放出研究への応用

FROLOV V D; KARABUTOV A V; KONOV V I; PIMENOV S M; PROKHOROV A M

文献

J-GLOBAL ID：200902146341788907 整理番号：99A0440700

走査型トンネル顕微鏡法電界電子放出研究への応用

tunnelling microscopy: application to field electron emission studies.

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資料名：
巻： 32 号： 7 ページ： 815-819 発行年： 1999年04月07日
JST資料番号： B0092B ISSN： 0022-3727 CODEN： JPAPBE 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

走査型トンネル顕微鏡(STM)の原理を拡張して,金属,半導体...

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電子顕微鏡,イオン顕微鏡 , 半導体の表面構造

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走査型トンネル顕微鏡法 電界電子放出研究への応用

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