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J-GLOBAL ID:200902146686558564   整理番号:02A0512526

基礎講座 基礎編 シミュレーション技術 総論

Semiconductor simulation technology-Introduction.
著者 (1件):
資料名:
巻: 71  号:ページ: 588-592  発行年: 2002年05月10日 
JST資料番号: F0252A  ISSN: 0369-8009  CODEN: OYBSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (1件):
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
引用文献 (6件):
  • 1) V. Senez, T. Hoffmann, E. Robilliart, G. Bouche, H. Jaouen, M. Lunenborg and G. Carnevale: Tech. Dig. Int. Electron Device Meet., Washington D. C., 2001, p. 831.
  • 2) W. Liu, S. Jin, J. Chen, M. C. Jeng, Z. Liu, Y. Cheng, K. Chen, M. Chan, K. Hui, J. Huang, R. Tu, P. K. Ko and C. Hu: BSIM3v3 User's Manual, 1996, http://www.eigroup.org/cmc/cmos/default.htm
  • 3) M. Suetake, K. Suematsu, H. Nagakura, M. Miura-Mattusch, H. J. Mattusch, S. Kumashiro, T. Yamaguchi, S. Odanaka and N. Nakayama: Proc. Int. Conf. Simulation of Semiconductor Processes and Devices, Athens, 2000, p. 261.
  • 4) B. J. Mulvaney and W. B. Richardson: Appl. Phys. Lett. 51, 1439 (1987).
  • 5) ITRS (International Technology Roadmap for Semiconduc- tors), 1999 ed., p. 315.
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