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J-GLOBAL ID：200902147141734043   整理番号：01A1035747

電力施設におけるパワー半導体デバイスの新しいモニタ法と長期信頼性評価

Novel Monitoring Method and Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices in Power Utilities.
著者 (2件)：
HORIUCHI T

HORIUCHI T について

(Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo Prefecture, JPN)

Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo Prefecture, JPN について

, 
SUGAWARA Y

SUGAWARA Y について

(Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo Prefecture, JPN)

Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo Prefecture, JPN について


資料名：
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs  (Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)

Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs について


巻： 13th  ページ： 75-78  発行年： 2001年 
JST資料番号： W1300A  ISSN： 1943-653X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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電力会社では,変電所整流器のAC/DC電力変換器や発電所の励...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*パワーエレクトロニクス

パワーエレクトロニクス について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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モニタリング

モニタリング について

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分類 (3件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

,  サイリスタ 
(NC03060C)

サイリスタ について

,  電力機器一般 
(NB06000G)

電力機器一般 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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電力施設

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パワー

パワー について

, 
半導体デバイス

半導体デバイス について

, 
モニタ

モニタ について

, 
長期

長期 について

, 
信頼性評価

信頼性評価 について


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