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J-GLOBAL ID：200902147531656590   整理番号：01A0427984

ナノメートル粒子の計測・発生技術と粒子標準への応用

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著者 (1件)：
高畑圭二

高畑圭二 について

(計量研)

計量研 について


資料名：
計量研究所報告  (Bulletin of NRLM)

計量研究所報告 について


巻： 50  号： 1  ページ： 127-139  発行年： 2001年01月 
JST資料番号： F0410A  ISSN： 0368-6051  CODEN： KKYHA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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粒子の性状は,粒径,濃度,化学組成,存在形態など多くの特性に...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*粒径

粒径 について

,...
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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ナノメートル粒子

ナノメートル粒子 について


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分類 (1件)：
分類
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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
(AD05020O)

長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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計測

計測 について

, 
標準

標準 について

, 
応用

応用 について


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