走査型電気化学的顕微鏡(SECM)  チップ形状がチップの電流応答におよぼす影響

AMPHLETT J L; DENUAULT G

文献

J-GLOBAL ID：200902147904021337 整理番号：99A0214894

走査型電気化学的顕微鏡(SECM) チップ形状がチップの電流応答におよぼす影響

Scanning Electrochemical Microscopy(SECM): An Investigation of the Effects of Tip Geometry on Amperometric Tip Response.

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巻： 102 号： 49 ページ： 9946-9951 発行年： 1998年12月03日
JST資料番号： W0921A ISSN： 1520-6106 CODEN： JPCBFK 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

走査型電気化学的顕微鏡(SECM)の過渡的および定常状態電流...

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顕微鏡法 , 電極過程

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