バルク寿命測定の非接触法としての,ac光起電力法とマイクロ波を用いた光伝導減衰法の適用性

TODA M; KITAGAWARA Y; TAKENAKA T

文献

J-GLOBAL ID：200902148726979820 整理番号：93A0673579

バルク寿命測定の非接触法としての,ac光起電力法とマイクロ波を用いた光伝導減衰法の適用性

Study of Applicability of AC Photovoltaic Method and Photoconductive Decay Method Using Microwaves as Noncontact Methods for Bulk Lifetime Measurement.

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資料名：
巻： 32 号： 7 ページ： 3330-3331 発行年： 1993年07月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

標記二つの方法で測定される寿命を,ASTM:F28-75で標...

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半導体と絶縁体の電気伝導一般 , 光伝導,光起電力

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