VAN DEGRIFT C T について
National Inst. Standards and Technology, MD について
YOSHIHIRO K について
Electrotechnical Lab., Tsukuba-shi, JPN について
PALM E C について
National Inst. Standards and Technology, MD について
WAKABAYASHI J について
Chuo Univ., Tokyo, JPN について
KAWAJI S について
Gakushin Univ., Tokyo, JPN について
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement について
電気測定 について
R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器 について
量子 について