文献
J-GLOBAL ID：200902149120591024   整理番号：99A0366024

スキャン利用BIST不良診断

Scan-Based BIST Fault Diagnosis.
著者 (2件)：
WU Y

WU Y について

(Northern Telecom, Ltd., Ottawa, CAN)

Northern Telecom, Ltd., Ottawa, CAN について

, 
ADHAM S M I

ADHAM S M I について

(Northern Telecom, Ltd., Ottawa, CAN)

Northern Telecom, Ltd., Ottawa, CAN について


資料名：
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems について


巻： 18  号： 2  ページ： 203-211  発行年： 1999年02月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
スキャン利用VLSIデバイスの新しいBIST(Built-I...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
*BIST

BIST について

,...
   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0366024&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0142C") }}
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
スキャン

スキャン について

, 
BIST

BIST について

, 
診断

診断 について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM