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J-GLOBAL ID：200902149544590753   整理番号：93A0968553

顕微鏡下における同軸励起及びプローブビームの光熱顕微鏡法及び微小粒子分析への応用

Photothermal Microscopy with Excitation and Probe Beams Coaxial under the Microscope and Its Application to Microparticle Analysis.

著者 (4件)： HARADA M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  IWAMOTO K (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KITAMORI T (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SAWADA T (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 65  号： 20  ページ： 2938-2940  発行年： 1993年10月15日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光熱ビーム偏向測定系へ顕微鏡を導入した。同軸状の励起ビーム(...

シソーラス用語： 光熱偏向分光法 ,...
準シソーラス用語： キノリノール ,...

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分類 (3件)： 分析機器  (CC02020S) ,  その他の物理分析  (CC03014E) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 顕微鏡 ,  同軸 ,  励起 ,  顕微鏡法 ,  微小 ,  粒子分析 ,  応用