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J-GLOBAL ID：200902149800146238   整理番号：93A0299468

誘導結合プラズマ発光分光によるほう素の分析におけるふっ化物干渉

Fluoride Interference in the Determination of Boron by Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy.

著者 (4件)： FUCSK<span style=text-decoration:overline>O′</span> J (Balazs Analytical Lab., California) ,  TAN S H (Balazs Analytical Lab., California) ,  LA H (Balazs Analytical Lab., California) ,  BALAZS M K (Balazs Analytical Lab., California)
資料名： Applied Spectroscopy  (Applied Spectroscopy)
巻： 47  号： 2  ページ： 150-155  発行年： 1993年02月 
JST資料番号： A0429A  ISSN： 0003-7028  CODEN： APSPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ほうりんけい酸ガラス(BPSG)膜中のほう素の分析にHF溶液...

シソーラス用語： ICP-AES分析 ,...

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分類 (2件)： ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z) ,  無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 誘導結合プラズマ ,  発光分光 ,  ほう素 ,  分析 ,  ふっ化物 ,  干渉