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J-GLOBAL ID:200902149912287489   整理番号:94A0095240

局所微分情報に基づく交差形状解析 低次微分フィルタによるL,T,X交差検出

Junction Analysis based on Local Image Derivatives. Detecting L-, T-, and X-Junctions from Low-Order Image Derivatives.
著者 (2件):
資料名:
巻: 76  号: 12  ページ: 2529-2536  発行年: 1993年12月 
JST資料番号: L0197A  ISSN: 0915-1923  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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画像認識を行う上で複数のエッジが交差している部分の形状検出は...
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