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J-GLOBAL ID：200902150275927876   整理番号：95A0378904

全反射X線表面回折装置の開発およびステンレス鋼上の酸化被膜の構造解析例

A New In-House Grazing Incidence X-ray Scattering(GIXS) Apparatus and its Application to the Structural Analysis of Oxide Film Grown on a Stainless Steel.

著者 (4件)： 小坂知己 (東北大 大学院) ,  斎藤正敏 (東北大 素材工研) ,  松原英一郎 (京大 大学院) ,  早稲田嘉夫 (東北大 素材工研)
資料名： 東北大学素材工学研究所い報  (Bulletin of the Institute for Advanced Materials Processing, Tohoku University)
巻： 50  号： 1/2  ページ： 79-87  発行年： 1994年12月 
JST資料番号： F0434A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 18kWの回転対陰極X線管を線源とし,Seemann-Boh...

シソーラス用語： X線回折計 ,...
準シソーラス用語： カラーステンレス鋼

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分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  化成処理  (WC08050J)

タイトルに関連する用語 (5件)： 回折 ,  開発 ,  ステンレス鋼 ,  酸化被膜 ,  構造解析