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J-GLOBAL ID：200902150390865230   整理番号：93A0732422

Wafer Level Detecting of Idd Failures in CMOS ASICs Using Liquid Crystal Techniques.

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著者 (4件)：
MA J

MA J について

(VLSI Technology, Inc., TX)

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HALEY M W

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(VLSI Technology, Inc., TX)

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MITCHELL T W

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(VLSI Technology, Inc., TX)

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SANCHEZ I

SANCHEZ I について

(VLSI Technology, Inc., TX)

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資料名：
Proceedings. Biennial University/Government/Industry Microelectronics Symposium  (Proceedings. Biennial University/Government/Industry Microelectronics Symposium)

Proceedings. Biennial University/Government/Industry Microelectronics Symposium について


巻： 10th  ページ： 240-244  発行年： 1993年 
JST資料番号： T0864A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (1件)：
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CMOS

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