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J-GLOBAL ID：200902151107213457   整理番号：98A0737207

マイクロセルを含むLSIのプローブガイド診断

Test and Diagnosis of VLSI. Guided Probe Diagnosis of LSls Containing Macrocells.
著者 (2件)：
KUJI N

KUJI N について

(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Atsugi-shi, JPN)

Nippon Telegraph and Telephone Corp., Atsugi-shi, JPN について

, 
TAKEDA T

TAKEDA T について

(Nippon Telegraph and Telephone Corp., Atsugi-shi, JPN)

Nippon Telegraph and Telephone Corp., Atsugi-shi, JPN について


資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers) について


巻： E81-D  号： 7  ページ： 731-737  発行年： 1998年07月 
JST資料番号： L1371A  ISSN： 0916-8532  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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診断に欠かせない内部ネットリストが明らかにされていないマイク...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*回路試験

回路試験 について

,...
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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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マイクロセル

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, 
LSI

LSI について

, 
診断

診断 について


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