文献
J-GLOBAL ID:200902151180487123
整理番号:93A0763657
Growth and surface morphology of thin silicon films using an atomic force microscope.
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=93A0763657&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=K19930455") }}
著者 (3件):
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資料名:
ページ:
65-70
発行年:
1993年
JST資料番号:
K19930455
ISBN:
1-55899-190-5
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
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