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J-GLOBAL ID：200902151282679337   整理番号：01A0487827

STEM マルチスライス法によるHAADF-STEM像の計算

著者 (2件)： 三石和貴 (金材技研) ,  古屋一夫 (金材技研)
資料名： 電子顕微鏡  (日本電子顕微鏡学会会報)
巻： 36  号： 1  ページ： 28-30  発行年： 2001年03月31日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 0417-0326  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 結晶による電子線の散乱を計算する代表的な方法にはマルチスライ...

シソーラス用語： *透過型走査電子顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： マルチスライス法

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (12件)：

• 1) Cowley, J.M. and Spence, J.C.H.: Ultramicrosc., 3, 433 (1979)
• 2) Kirkland, E.J., Loane, R.F. and Silcox, J.: Ultramicrosc., 23, 77 (1987)
• 3) Loane, R.F., Kirkland, E.J. and Silcox, J.: Acta Cryst, A44, 912 (1988)
• 4) Loane, R.F., Xu, P. and Silcox, J.: Acta Cryst., A47, 267 (1991)
• 5) Hillyard, S., Loane, R.F. and Silcox, J.: Ultramicros., 49, 14 (1993)

タイトルに関連する用語 (5件)： STEM ,  マルチ ,  スライス法 ,  HAADF-STEM ,  計算