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J-GLOBAL ID：200902151471541966   整理番号：98A0954394

PSPCによる一結晶内の付加応力測定

X-Ray Stress Analysis on Single Crystal by Using PSPC.

著者 (3件)： 須山雄二郎 (武蔵工大 大学院) ,  大谷真一 (武蔵工大) ,  吉岡靖夫 (武蔵工大)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 34th  ページ： 25-30  発行年： 1998年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 回折線のその場観察が可能な一次元位置敏感型X線検出器(PSP...

シソーラス用語： *X線応力測定 ,...
準シソーラス用語： PSPC【X線検出器】

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分類 (1件)： 金属材料  (HC02020X)

タイトルに関連する用語 (2件)： 結晶 ,  応力測定