文献

J-GLOBAL ID：200902151917485895   整理番号：94A0073953

全反射X線によって誘起されたサンプル電流を用いた表面敏感X線吸収微細構造の測定

Surface Sensitive X-ray Absorption Fine Structure Measurement Using Sample Current Induced by Totally Reflected X-rays.

著者 (9件)： KAWAI J (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  HAYAKAWA S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KITAJIMA Y (National Lab. High Energy Physics, Tsukuba, JPN) ,  SUZUKI S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  MAEDA K (Inst. Physical and Chemical Research (RIKEN), Saitama, JPN) ,  URAI T (Inst. Physical and Chemical Research (RIKEN), Saitama, JPN) ,  ADACHI H (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  TAKAMI M (Inst. Physical and Chemical Research (RIKEN), Saitama, JPN) ,  GOHSHI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Proceedings of the Japan Academy. Series B. Physical and Biological Sciences  (Proceedings of the Japan Academy. Series B. Physical and Biological Sciences)
巻： 69  号： 7  ページ： 179-184  発行年： 1993年09月 
JST資料番号： G0485B  ISSN： 0386-2208  CODEN： PJABDW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シンクロトロン放射X線(2keV)の入射角を変えてGaAsウ...

シソーラス用語： EXAFS ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0073953&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0485B") }}

分類 (1件)： X線スペクトル一般  (BM08101P)

引用文献 (25件)：

• 1) P.A. Lee et al.: Rev. Mod. Phys., 53, 769 (1981).
• 2) Proc. of the 7th Intern. Conf, on X-Ray Absorption Fine Structure (eds. H. Kuroda et al.).Jpn. J. Appl. Phys, 32, Suppl., 32-2 (1993).
• 3) J. Stöhr, R. Jaeger, and S. Brennan: Surf. Sci., 117, 503 (1982).
• 4) P.H. Citrin: Surf. Sci., 184, 109 (1987).
• 5) D. Norman: J. Phys. C: Solid State Phys., 19, 3273 (1986).

タイトルに関連する用語 (3件)： 誘起 ,  サンプル ,  X線吸収微細構造