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J-GLOBAL ID：200902153031547361   整理番号：93A0708679

Characterization and application of nanoscale artifacts in scanning tunneling microscopy.

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著者 (2件)：
BERNDT R

BERNDT R について

(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)

IBM Research Division, Rueschlikon, CHE について

, 
GIMZEWSKI J K

GIMZEWSKI J K について

(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)

IBM Research Division, Rueschlikon, CHE について


資料名：
NATO ASI Series. E. Applied Sciences  (NATO ASI Series. E. Applied Sciences)

NATO ASI Series. E. Applied Sciences について


巻： 239  ページ： 327-335  発行年： 1993年 
JST資料番号： C0593B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

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