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J-GLOBAL ID：200902153750055420   整理番号：98A0591468

構成可能LUTベースFPGA試験

Testing Configurable LUT-Based FPGA’s.
著者 (4件)：
HUANG W K

HUANG W K について

(Fudan Univ., Shanghai, CHN)

Fudan Univ., Shanghai, CHN について

, 
MEYER F J

MEYER F J について

(Texas A&M Univ., TX, USA)

Texas A&M Univ., TX, USA について

, 
CHEN X-T

CHEN X-T について

(Lucent Technol., PA, USA)

Lucent Technol., PA, USA について

, 
LOMBARDI F

LOMBARDI F について

(Texas A&M Univ., TX, USA)

Texas A&M Univ., TX, USA について


資料名：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems について


巻： 6  号： 2  ページ： 276-283  発行年： 1998年06月 
JST資料番号： W0516A  ISSN： 1063-8210  CODEN： ITCOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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ルックアップテーブル(LUT)ベースのフィールドプログラマブ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*ASIC

ASIC について

,...
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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平面アレイ

平面アレイ について


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分類 (1件)：
分類
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半導体集積回路 
(NC03162T)

半導体集積回路 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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LUT

LUT について

, 
FPGA

FPGA について

, 
試験

試験 について


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