文献
J-GLOBAL ID:200902153870994926
整理番号:94A0233061
Wafer-level cryogenic measurement system and applications.
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著者 (1件):
資料名:
ページ:
294-309
発行年:
1993年
JST資料番号:
K19940195
ISBN:
1-56677-071-8
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
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