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J-GLOBAL ID：200902154624197169   整理番号：97A0418252

直線集束ビーム超音波顕微鏡による材料評価法における試料裏面反射波の影響 試料厚さに関する検討

Influence of the waves reflected from the bottom surface of sample on velocity measurements by the line-focus-beam acoustic microscopy system. Effect of sample thickness.

著者 (3件)： 櫛引淳一 (東北大 工) ,  荒川元孝 (東北大 工) ,  大橋雄二 (東北大 工)
資料名： 日本音響学会研究発表会講演論文集  (Reports of the Meeting. the Acoustical Society of Japan)
巻： 1997  号： Spring Pt 2  ページ： 1035-1036  発行年： 1997年03月 
JST資料番号： G0381B  ISSN： 1340-3168  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標題の顕微鏡では測定にはRFバーストパルスを用いるが,半無限...

シソーラス用語： 音響顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 音響測定  (BB03040R)

引用文献 (3件)：

• KUSHIBIKI, J. IEEE Trans. & Sonics & Ultrason. 1985, SU-32, 189-212
• 小野. 電子情報通信学会技術報告. 1994, US94-51, 29-36
• KUSHIBIKI, J. 1992 IEEE Ultrasonics Symp. Proc. 1992, 719-722

タイトルに関連する用語 (8件)： 直線 ,  集束 ,  ビーム ,  超音波顕微鏡 ,  材料評価 ,  試料 ,  反射波 ,  厚さ