50GHz帯における空洞共振器法による誘電体平板の複素誘電率の温度依存性の測定

中岡奨; ZHANG S; 小林よし夫

文献

J-GLOBAL ID：200902154967092214 整理番号：98A0095720

50GHz帯における空洞共振器法による誘電体平板の複素誘電率の温度依存性の測定

Temperature dependence measurements of complex permittivity of dielectric plates at 50GHz by the cavity resonance method.

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資料名：
巻： 97 号： 374(MW97 114-126) ページ： 27-30 発行年： 1997年11月14日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

本報告では,ミリ波帯で誘電体平板の複素誘電率の温度依存性を円...

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誘電体測定技術・装置 , 共振器

引用文献 (6件)：

KOBAYASHI, Y. Microwave measurement of complex permittivity of dielectric plate materials. Papers of Technical Group on Microwaves, Inst. Elect. Inf. Commun. Engns. Jap. 1987, MW87-7
KOBAYASHI, Y. Nondestructive measurement of complex permittivity of dielectric plate materials by a cavity resonance method. Papers of Technical Group on Microwaves, Inst. Elect. Inf. Commun. Engns. Jap. 1987, MW87-53
KOBAYASHI, Y. Complex Permittivity Measurement of Dielectric Plates by a Cavity Resonance Method. Papers of Technical Group on Microwaves, Inst. Elect. Inf. Commun. Engns. Jap. 1988, MW88-40
KOBAYASHI, Y. Millimeter wave measurement of complex permittivity by improved dielectric disk resonator method. The 13th International Conference on Infrared and Millimeter Waves, Dec. 5-9. 302-303
金川. 導波管励振誘電体平板共振器を用いたミリ波複素誘電率の非破壊測定. 信学技報. 1994, MW94-40

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