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J-GLOBAL ID:200902155921761223   整理番号:93A0582903

Statistical distributions of stress and electromigration induced failure.

著者 (3件):
資料名:
巻: 1805  ページ: 130-153  発行年: 1993年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)

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