WIEDMANN F について
Texas Instruments Deutschland GmbH, Freising, DEU について
HUYART B について
Ecole Nationale Superieure des Tele-communications, Paris, FRA について
BERGEAULT E について
Ecole Nationale Superieure des Tele-communications, Paris, FRA について
JALLET L について
Ecole Nationale Superieure des Tele-communications, Paris, FRA について
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement について
キャリブレーション について
屈折及び反射の測定と装置 について
ポート について
反射率計 について
キャリブレーション について
ロバスト について