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J-GLOBAL ID：200902157590342910   整理番号：93A0423852

酸化物被膜の固有の酸化還元過程における欠陥濃度と表面状態の時間依存性

Examination of the Time Dependence of Concentration of Defects and Surface States during Intrinsic Redox Processes in Oxide Films.

著者 (4件)： KOENIG U (Heinrich-Heine-Univ., Duesseldorf, DEU) ,  BLUM O (Heinrich-Heine-Univ., Duesseldorf, DEU) ,  CHRIST R (Heinrich-Heine-Univ., Duesseldorf, DEU) ,  REEH I (Heinrich-Heine-Univ., Duesseldorf, DEU)
資料名： Berichte der Bunsen-Gesellschaft  (Berichte der Bunsen-Gesellschaft)
巻： 97  号： 3  ページ： 488-494  発行年： 1993年03月 
JST資料番号： E0432A  ISSN： 0005-9021  CODEN： BBPCAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ni表面の酸化不動態膜及びLaNiO₃...

シソーラス用語： ニッケル ,...

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分類 (1件)： 電極過程  (CB07040U)

タイトルに関連する用語 (6件)： 酸化物被膜 ,  固有 ,  酸化還元 ,  過程 ,  欠陥 ,  時間依存性