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J-GLOBAL ID：200902159228160181   整理番号：02A0479480

VLSI回路の低電力試験の調査

Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits.
著者 (1件)：
GIRARD P

GIRARD P について

(Lab. Informatics, Robotics and Microelectronics of Montpellier)

Lab. Informatics, Robotics and Microelectronics of Montpellier について


資料名：
IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)

IEEE Design & Test of Computers について


巻： 19  号： 3  ページ： 82-92  発行年： 2002年05月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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試験中のVLSIで消費される電力が増加し,様々な問題を生じる...
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超LSI

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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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VLSI回路

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電力試験

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, 
調査

調査 について


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