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J-GLOBAL ID：200902159312883113   整理番号：02A0658319

焼結導体と誘電体基板間インタフェイスのマイクロ波周波数における導電率測定

Conductivity Measurements at the Interface Between the Sintered Conductor and Dielectric Substrate at Microwave Frequencies.
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著者 (4件)：
NAKAYAMA A

NAKAYAMA A について

(Kyocera Corp., Kagoshima, JPN)

Kyocera Corp., Kagoshima, JPN について

, 
TERASHI Y

TERASHI Y について

(Kyocera Corp., Kagoshima, JPN)

Kyocera Corp., Kagoshima, JPN について

, 
UCHIMURA H

UCHIMURA H について

(Kyocera Corp., Kagoshima, JPN)

Kyocera Corp., Kagoshima, JPN について

, 
FUKUURA A

FUKUURA A について

(Kyocera Corp., Kyoto, JPN)

Kyocera Corp., Kyoto, JPN について


資料名：
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques について


巻： 50  号： 7  ページ： 1665-1674  発行年： 2002年07月 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
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焼結導体表面と導体-誘電体材料間の境界面のそれぞれの等価導電...
シソーラス用語：
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SHF【周波数】

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分類 (2件)：
分類
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R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器 
(AD07030N)

R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器 について

,  プリント回路 
(NA05040O)

プリント回路 について

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導体

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誘電体基板

誘電体基板 について

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マイクロ波

マイクロ波 について

, 
導電率測定

導電率測定 について


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