文献

J-GLOBAL ID：200902159636023125   整理番号：01A0767752

微細ファイバの全半球放射率を測定するための短熱線法

Short-hot-wire method for the measurement of total hemispherical emissivity of a fine fibre.

著者 (3件)： FUJIWARA S (Kyushu Univ., Kasuga, JPN) ,  ZHANG X (Kyushu Univ., Kasuga, JPN) ,  FUJII M (Kyushu Univ., Kasuga, JPN)
資料名： High Temperatures-High Pressures  (High Temperatures-High Pressures)
巻： 33  号： 3  ページ： 271-278  発行年： 2001年 
JST資料番号： E0486A  ISSN： 0018-1544  CODEN： HTHPAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい熱放射率測定法を提案した。この方法では、2本の白金線を...

シソーラス用語： *熱放射率 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=01A0767752&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0486A") }}

分類 (2件)： 放射伝達,放射変調  (BD03080P) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 微細 ,  ファイバ ,  半球 ,  放射率 ,  熱線