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J-GLOBAL ID：200902159708391264   整理番号：00A0039127

走査型プローブ顕微鏡による電界電子放射の計測

Scanning Probe Microscope Based Electron Field Emission Study.

著者 (3件)： 井上貴仁 (電総研) ,  伊藤順司 (電総研) ,  横山浩 (電総研)
資料名： 固体物理  (Solid State Physics)
巻： 34  号： 12  ページ： 949-955  発行年： 1999年12月15日 
JST資料番号： F0158B  ISSN： 0454-4544  CODEN： KOTBA2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 陽極としてチップを用いた電気伝導性チップを有する走査プローブ...

シソーラス用語： 表面性状 ,...

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分類 (1件)： 熱電子放出,電界放出  (BM09020S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型プローブ顕微鏡 ,  電界 ,  電子放射 ,  計測