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J-GLOBAL ID：200902160358834689   整理番号：99A0139982

原子間力顕微鏡に基づく新しい電気的地図技術により研究されたすずめっき接点のフレッティング劣化

Fretting Degradation of Tin-Plated Contacts Studied by Means of a New Electrical Cartography Technique Based on Atomic Force Microscopy.

著者 (8件)： SCHNEEGANS O (Lab. Genie Electrique de Paris, Univ. Paris VI et Paris XI, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  HOUZE F (Lab. Genie Electrique de Paris, Univ. Paris VI et Paris XI, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  CHRETIEN P (Lab. Genie Electrique de Paris, Univ. Paris VI et Paris XI, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  NOEEL S (Lab. Genie Electrique de Paris, Univ. Paris VI et Paris XI, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  BODIN C (Lab. Genie Electrique de Paris, Univ. Paris VI et Paris XI, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  BOYER L (Lab. Genie Electrique de Paris, Univ. Paris VI et Paris XI, Gif-sur-Yvette, FRA) ,  TRISTANI L (FCI Joint Res. Center, La Ferte-Bernard, FRA) ,  ZINDINE E M (FCI Joint Res. Center, La Ferte-Bernard, FRA)
資料名： 19th International Conference on Electric Contact Phenomena, 1998  (19th International Conference on Electric Contact Phenomena, 1998)
ページ： 187-193  発行年： 1998年 
JST資料番号： K19980655  ISBN： 3-8007-2382-4  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： すずめっきの球/平板接点における,良く制御された相対振動のも...

シソーラス用語： *電気接点 ,...

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分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 原子間力顕微鏡 ,  地図 ,  研究 ,  すずめっき ,  フレッティング