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J-GLOBAL ID：200902161494353500   整理番号：98A0391131

Rh/WデュアルX線管を用いた低希釈率ガラスビード法による岩石中の主成分,微量成分および希土類の分析

Analysis of Major, Trace and Rare Earth Elements in Geological Samples Using Low Dilusion Glass Bead.

著者 (8件)： 山田康治郎 (理学電機工業) ,  河野久征 (理学電機工業) ,  白木敬一 (山口大) ,  永尾隆志 (山口大) ,  角縁進 (佐賀大) ,  大場司 (東北大) ,  川手新一 (東北大) ,  村田守 (鳴門教大)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 29  ページ： 47-70  発行年： 1998年03月 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Rh/W二極ターゲットX線管を用いることによって,単-Rhタ...

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,...

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分類 (1件)： 鉱物・岩石・鉱石の物理分析  (CC03090Y)

タイトルに関連する用語 (10件)： Rh ,  デュアル ,  X線管 ,  低希釈 ,  ガラス ,  ビード ,  岩石 ,  微量成分 ,  希土類 ,  分析