LEW M S について
Leiden Inst. Advanced Computer Sci., Leiden, NLD について
Leiden Inst. Advanced Computer Sci., Leiden, NLD について
HUANG T S について
Univ. Illinois at Urbana-Champaign, USA について
Proceedings. IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition について
パターンマッチング について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について