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J-GLOBAL ID:200902162212638279   整理番号:01A0831508

パラメトリックX線による標的結晶の特性測定

著者 (9件):
資料名:
巻: 2001  号: 第1分冊  ページ: 183  発行年: 2001年08月10日 
JST資料番号: S0818A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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標的結晶にSi,InPおよびGaAsを用いてパラメトリックX...
シソーラス用語:
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準シソーラス用語:
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分類 (1件):
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X線回折法 
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