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J-GLOBAL ID：200902162212638279   整理番号：01A0831508

パラメトリックX線による標的結晶の特性測定

著者 (9件)： 田村昌也 (北大 大学院) ,  秋本正 (北大 大学院) ,  池田慈郎 (北大 大学院) ,  原幸弘 (北大 大学院) ,  藤田文行 (北大 大学院) ,  本間彰 (北大 大学院) ,  沢村晃子 (北大 大学院) ,  成田正邦 (秋田大 工) ,  今井和明 (北海道工大)
資料名： 日本原子力学会秋の大会予稿集  (日本原子力学会秋の分科会予稿集)
巻： 2001  号： 第1分冊  ページ： 183  発行年： 2001年08月10日 
JST資料番号： S0818A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 標的結晶にSi,InPおよびGaAsを用いてパラメトリックX...

シソーラス用語： 固有X線 ,...
準シソーラス用語： エネルギー拡がり

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： パラメトリックX線 ,  標的 ,  結晶