電子ビーム蒸発中のニオブ表面の温度分布の測定

文献

J-GLOBAL ID：200902162442781038 整理番号：93A1004841

Measurements of the temperature profile on the surface of niobium during electron beam evaporation.

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巻： 44 号： 11/12 ページ： 1127-1129 発行年： 1993年11月
JST資料番号： E0347A ISSN： 0042-207X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

電子ビームに曝された溶融ニオブターゲット表面の温度分布を測定...

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金属薄膜 , 温度測定,温度計

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