文献
J-GLOBAL ID:200902162734330398 整理番号:97A0637148
半導体 高品位SiC単結晶の成長(2) 改良レーリー法
Semiconductor. Growth of a high-grade SiC single crystal (2). Improved Rayleigh method.
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著者 (1件):
一色実
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東北大 素材工研
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資料名:
金属 (Materials Science & Technology)
金属 について
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巻:
67
号:
7
ページ:
608-609
発行年:
1997年07月
JST資料番号:
F0157A
ISSN:
0368-6337
CODEN:
KNZKA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
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