文献
J-GLOBAL ID：200902164277416845   整理番号：93A0903709

Analysis of stresses at singular points of patterned structures.

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著者 (4件)：
CHOUAF A

CHOUAF A について

(ENSEEG, Saint-Martin d’Heres, FRA)

ENSEEG, Saint-Martin d’Heres, FRA について

, 
LOPPIN G

LOPPIN G について

(UFR des Sciences de Reims, Reims, FRA)

UFR des Sciences de Reims, Reims, FRA について

, 
IGNAT M

IGNAT M について

(ENSEEG, Saint-Martin d’Heres, FRA)

ENSEEG, Saint-Martin d’Heres, FRA について

, 
TERRIEZ J M

TERRIEZ J M について

(ENSEEG, Saint-Martin d’Heres, FRA)

ENSEEG, Saint-Martin d’Heres, FRA について


資料名：
Materials Reliability in Microelectronics 3  (Materials Reliability in Microelectronics 3)

Materials Reliability in Microelectronics 3 について


ページ： 211-216  発行年： 1993年 
JST資料番号： K19930537  ISBN： 1-55899-205-7  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

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