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J-GLOBAL ID：200902164688700536   整理番号：93A0763677

Compositional analysis and high resolution imaging of grain boundaries in Pr-doped ZnO ceramics.

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著者 (4件)：
SOLORZANO I G

SOLORZANO I G について

(MIT, MA, USA)

MIT, MA, USA について

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VANDER SANDE J B

VANDER SANDE J B について

(MIT, MA, USA)

MIT, MA, USA について

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BAEK K K

BAEK K K について

(MIT, MA, USA)

MIT, MA, USA について

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TULLER H L

TULLER H L について

(MIT, MA, USA)

MIT, MA, USA について


資料名：
Atomic-Scale Imaging of Surfaces and Interfaces  (Atomic-Scale Imaging of Surfaces and Interfaces)

Atomic-Scale Imaging of Surfaces and Interfaces について


ページ： 189-194  発行年： 1993年 
JST資料番号： K19930455  ISBN： 1-55899-190-5  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (2件)：
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ZnO

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