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J-GLOBAL ID:200902164820152241 整理番号:93A0958523
特集/半導体関連材料を総点検する 半導体封止材料
Special issue : Inspecting semiconductor related materials thoroughly.Semiconductor encapsulants.
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著者 (1件):
沢井和弘
沢井和弘 について
名寄せID(JGPN) 200901100330747709 ですべてを検索
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(
東芝ケミカル
)
東芝ケミカル について
名寄せID(JGON) 201551000097329679 ですべてを検索
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資料名:
電子材料 (Electronic Parts and Materials)
電子材料 について
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巻:
32
号:
11
ページ:
71-76
発行年:
1993年11月
JST資料番号:
F0040A
ISSN:
0387-0774
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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