SF<sub>6</sub>ガス中接点の通電発熱による硫化皮膜生成と通電障害への進展

文献

J-GLOBAL ID：200902164989111617 整理番号：96A0604668

SF₆ガス中接点の通電発熱による硫化皮膜生成と通電障害への進展

Sulfide Layer Formation and Current Carrying Deterioration by the joule’s Heat of Contacts in S F₆ Gas.

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資料名：
巻： 116 号： 6 ページ： 698-705 発行年： 1996年06月
JST資料番号： S0809A ISSN： 0385-4213 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

SF₆ガス中で水分があればAgは252...

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電気接点

引用文献 (8件)：

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