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J-GLOBAL ID：200902165105751576   整理番号：01A0545509

光学顕微鏡画像処理による半導体レーザ光を用いた微粉炭粒子の自動高さ測定法とその粒度分布計測法への応用

An Application of Automatic Particle Height Measuring Technique Using Laser Diodes to the Measurement of Pulverized Particle Coal Distribution under an Image Analysis System with an optical Microscope.

著者 (3件)： 杉田隆行 (山陽高) ,  北山正文 (広島工大) ,  上甲富士雄 (ダックケーブル)
資料名： 計測自動制御学会論文集  (Transactions of the Society of Instrument and Control Engineers)
巻： 37  号： 5  ページ： 383-388  発行年： 2001年05月31日 
JST資料番号： S0104A  ISSN： 0453-4654  CODEN： KJSRA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ターンテーブル上に散布した微粉炭粒子の高さ(厚み)測定法と粒...

シソーラス用語： *微粉炭 ,...

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分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

引用文献 (10件)：

• 粉体工学会編. 粉体工学便覧. 1998, 3-42
• 粉体工学会編. 粒子径計測技術. 1994, 215-229
• 北山. 光学顕微鏡画像処理による微粉炭粒度計測法における試料散布技術について. 計測と制御. 1991, 30-5, 436-440
• 北山. 光学顕微鏡画像処理による微粉炭粒度分布計測法. 計測と制御. 1988, 27-6, 531-536
• 北山正文. 微粉炭粒度計測法の比較較正ついて. 計測自動制御学会論文集. 1992, 28-3, 297-300

タイトルに関連する用語 (8件)： 光学顕微鏡 ,  画像処理 ,  半導体レーザ ,  微粉炭 ,  高さ測定 ,  粒度分布 ,  計測法 ,  応用