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J-GLOBAL ID：200902165191175272   整理番号：94A0070901

電子温度範囲300-2000KでのO₂⁺とNO⁺に対する解離的再結合定数のFALP研究

FALP studies of the dissociative recombination coefficients for O<span style=text-decoration:overline>⁺₂</span> and NO⁺ within the electron temperature range 300-2000K.

著者 (3件)： SPANEL P (Univ. Innsbruck, Innsbruck, AUT) ,  DITTRICHOVA L (Univ. Innsbruck, Innsbruck, AUT) ,  SMITH D (Univ. Innsbruck, Innsbruck, AUT)
資料名： International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes  (International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes)
巻： 129  ページ： 183-191  発行年： 1993年11月30日 
JST資料番号： D0625A  ISSN： 0168-1176  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： O₂⁺とNO<s...

シソーラス用語： プラズマ ,...
準シソーラス用語： フローイングアフタグロー-Langmuirプローブ

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分類 (1件)： 荷電体衝撃・放電による反応  (CB06020R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子温度 ,  解離 ,  再結合 ,  定数 ,  研究