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J-GLOBAL ID：200902165452603900   整理番号：93A0755703

Laser induced damage threshold measurements at the microscopic level.

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著者 (2件)：
ZWAN A D

ZWAN A D について

(Hughes Missile Systems Co., CA)

Hughes Missile Systems Co., CA について

, 
MILLER D R

MILLER D R について

(Univ. California at San Diego, CA)

Univ. California at San Diego, CA について


資料名：
Laser Ablation in Materials Processing: Fundamentals and Applications  (Laser Ablation in Materials Processing: Fundamentals and Applications)

Laser Ablation in Materials Processing: Fundamentals and Applications について


ページ： 243-248  発行年： 1993年 
JST資料番号： K19930447  ISBN： 1-55899-180-8  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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LASER

LASER について


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