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J-GLOBAL ID：200902165777740670   整理番号：93A0404801

II-VI半導体への注入後に直接測定した孤立Fe及びNiの磁気的挙動

Magnetic behaviour of isolated Fe and Ni ions measured directly after implantation into II-VI-semiconductors.

著者 (5件)： WALDMANN H (Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Berlin, DEU) ,  MAHNKE H-E (Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Berlin, DEU) ,  SPELLMEYER B (Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Berlin, DEU) ,  SULZER G (Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Berlin, DEU) ,  ZEITZ W-D (Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Berlin, DEU)
資料名： Radiation Effects and Defects in Solids  (Radiation Effects and Defects in Solids)
巻： 126  号： 1/4  ページ： 399-402  発行年： 1993年03月 
JST資料番号： A0224B  ISSN： 1042-0150  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ZnS及びZnTe中の⁵⁴Fe及び<s...

シソーラス用語： 重イオン照射 ,...
準シソーラス用語： 鉄54 ,...

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分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (6件)： II-VI半導体 ,  注入 ,  直接測定 ,  Fe ,  Ni ,  磁気的挙動