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J-GLOBAL ID：200902166388299450   整理番号：99A0525580

サイト選択x線吸収微細構造 Al_0.33Ga_0.67As:SeのDX中心におけるGaの局所構造の選択的観察

Site-selective x-ray absorption fine structure: Selective observation of Ga local structure in DX center of Al_0.33Ga_0.67As:Se.

著者 (4件)： ISHII M (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst.(JASRI), Hyogo, JPN) ,  YOSHINO Y (Okayama Univ. Sci., Okayama, JPN) ,  TAKARABE K (Okayama Univ. Sci., Okayama, JPN) ,  SHIMOMURA O (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst.(JASRI), Hyogo, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 74  号： 18  ページ： 2672-2674  発行年： 1999年05月03日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 深い捕獲中心の局所構造を調べるために,Schottky障壁ダ...

シソーラス用語： *ヒ化ガリウムアルミニウム ,...
準シソーラス用語： DX中心

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分類 (2件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  不純物・欠陥の電子構造  (BM02100I)

タイトルに関連する用語 (7件)： サイト選択 ,  X線吸収微細構造 ,  Se ,  DX中心 ,  Ga ,  局所構造 ,  観察