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J-GLOBAL ID：200902166870463631   整理番号：93A0610195

フォトルミネッセンス法によるZnSe/CdSe単一量子井戸界面混晶化の評価

Characterization of Interfacial Alloy Formation in ZnSe/CdSe Quantum-Well Heterostructures by Photoluminescence Spectroscopy.

著者 (4件)： 吉原弘明 (広島大 工) ,  竹林和久 (広島大 工) ,  ZHU Z (広島大 工) ,  八百隆文 (広島大 工)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 40th  号： Pt 1  ページ： 242  発行年： 1993年03月 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： フォトルミネッセンス ,  ZnSe ,  CdSe ,  単一量子井戸 ,  界面 ,  混晶 ,  評価